2013年12月10日星期二

双层钨丝阵软X射线辐射参数

双层钨丝阵X射线辐射波形为单峰结构,实现了理想的内爆模式,X射线辐射功率达到5.6TW,为Angara-5-1历史最高水平。与单层钨丝阵相比,钨丝直径4.2um、钨丝数量128、钨丝阵直径18mm的单层钨丝阵X射线辐射功率为5.2TW,显示双层钨丝阵X射线辐射功率己经略高于单层钨丝阵,但尚未实现圣地亚实验室获得的40%提高量。

可能的原因是:单一层钨丝阵丝间隙为0.44mm,双层钨丝阵丝间隙为0.66mm,按钨丝间隙与X射线辐射功率定标律评估,在钨丝间隙0.40-0.66mm区间,钨丝间隙对X射线辐射参数影响十分明显,钨丝间隙小,有利于改善等离子体“成帘”特性,提高内爆等离子体时空分布均匀性,反之,则降低内爆等离子体时空分布均匀性。

采用4.2um钨丝己经使单层钨丝阵钨丝间隙达到了理想的水平,但受Angara-5-1驱动能力的限制,双层钨丝阵丝间隙仍然偏大,在一定程度上限制了X射线辐射功率的提高。


没有评论:

发表评论