超细钨丝连续电解抛光工艺参数优化

超细钨丝连续电解抛光工艺参数优化

以直径低于10μm的超细钨丝作为Z-pinch实验丝阵负载材料,其制备常用到电解腐蚀技术。为定量控制每道次钨丝的减径量,并探索钨丝电解参数优化方 法,根据法拉第定律推导并验证了在应用电解腐蚀技术制备超细钨丝的过程中单位长度钨丝的失重与电流强度和拉丝速率的比值存在正比关系。

实验观测到,道次减径比超过25%时,断丝几率较减径比为20%时的高60%以上。基于实验结论,提出了每道次定量控制钨丝直径减少量的方法。在18～26℃、质量分数为 15%的KOH溶液中,针对3μm钨丝采用了最小化腐蚀道次的电解参数。对用这种参数制得的钨丝进行SEM和力学性能测试,结果表明,钨丝表面质量与断裂 强度更好。



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