用新型红外测温仪观察由钨丝电子发射引起的损耗

在金属电子逸出功测定实验中，未考虑由钨丝电子发射引起的损耗。存在约-1．86％的系统误差．用新型红外测温仪可以观察到因上述损耗而出现的钨丝温度的变化。为修正该系统误差提供直接的观察依据。

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